Jornada LES: Métodos de valoración de patentes: Aplicación práctica de los métodos más utilizados. Nuevas perspectivas y caso práctico de estudio

Jornada LES: Métodos de valoración de patentes: Aplicación práctica de los métodos más utilizados. Nuevas perspectivas y caso práctico de estudio

Métodos de valoración de patentes: Aplicación práctica de los métodos más utilizados.

Viernes, 23 de Enero de 2015

Lugar: CSIC – Serrano n.º 117, Edificio Pinar 25

AFORO COMPLETADO

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